EDX-8800H 立式X荧光矿石分析光谱仪
Simply the Best
>美国AmpTek -FSDD探测器, 高分辨率高计数率
>真空测试环境提供最优轻元素检测效果
>无损元素分析涵盖11Na to 92U
>适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆
>多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限
>坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境
EDX8800H MAX能量色散荧光光谱仪-材料成分分析专家
作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX8800H MAX配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX8800H MAX都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX8800H MAX成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。
EDX8800H MAX专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：
•铁矿• 铜矿• 铝土矿•贵金属矿产•稀土矿•原料•磷酸盐•煤炭•铅锌矿•锰矿•镍矿•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等
EDX8800H MAX操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用
>塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析
>石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析
>环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等
>涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等
>刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物等
>食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等
产品特点
作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-8800H MAX兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：
•无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果
•强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响
•原装进口高功率光管和电制冷的FSDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率
•能同时进行元素和氧化物成分分析
•多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全
•特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高
•友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像
•八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差
•高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位
矿产元素检测专家EDX8800H MAX
>仪器参数
仪器外观尺寸: 650mm*600mm*900mm |
仪器重量: 105Kg |
元素分析范围：Na11-U92钠到铀 |
可分析含量范围：1ppm- 99.99% |
探测器：AmpTek 高分辨率电制冷FSDD硅漂移检测器 |
多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器 |
X光管：原装进口高功率铍窗光管 |
高压发生装置：电压最大输出100kV，自带电压过载保护 |
电压：220ACV 50/60HZ |
环境温度：-10 °C 到35 °C |
仪器配置
>标准配置 | >可选配置 |
纯Ag初始化标样 | 磨样机 |
真空泵 | 压片机 |
矿石专用样品杯 | 烘干箱 |
USB数据线 | 熔片机 |
电源线 | 电子秤 |
测试薄膜 | 矿石标准样 |
仪器出厂和标定报告 | 交流净化稳压电源 |
保修卡 | 150目筛子 |
功能强大而界面友好的测试软件
界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。
软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品。
EDX8800H MAX已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了
>一键初始化仪器，基体自动匹配
>自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比
>光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响
>光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度
>可实时刷新测量结果
>简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线
>可定制化测试报告，一键打印
