磁性材料分析仪EDX8800M Max用于测定铁红中三氧化二铁及杂质元素含量发表时间:2024-11-06 13:56 磁性材料分析仪EDX8800M Max用于测定铁红中三氧化二铁及杂质元素含量
作为一款立式高性能X射线荧光(EDXRF)材料分析仪,EDX8800M MAX配置了高功率X射线激发系统,同时搭配了高计数率和高分辨率的FSDD探测器,它提供了出色的线性动态范围,可在金属、水泥、矿物、采矿、玻璃和陶瓷中实现更高精度的过程和质量控制。 以下是磁性材料分析仪EDX8800M Max用于测定铁红中三氧化二铁及杂质元素含量的测试报告: |