镀层测厚仪EDX8000T plus用于快速分析手表表带表面镀硅层和镀铬层的厚度

镀层测厚仪EDX8000T plus用于快速分析手表表带表面镀硅层和镀铬层的厚度

手表表带从外观上看起来简单却有着复杂的结构。其中，表面镀硅层和镀铬层的厚度是手表表带的重要组成部分，它们不仅能提升手表的整体美观程度，还有助于增加表带的坚固度和耐用性。

镀铬是指将铬作为镀层镀到其他金属上的行为。铬是一种微带蓝色的银白色金属，金属铬在空气中极易钝化，表面形成一层极薄的钝化膜，从而显示出贵金属的性质。镀铬层具有很高的硬度，根据镀液成分和工艺条件不同，其硬度可在很大范围400～1200HV内变化。镀铬层有较好的耐热性，在500℃以下加热，其光泽性、硬度均无明显变化，温度大于500℃开始氧化变色，大于700℃硬度开始降低。镀铬层的摩擦系数小，特别是干摩擦系数，在所有的金属中是最低的。所以镀铬层具有很好的耐磨性。镀铬层具有良好的化学稳定性，在碱、硫化物、硝酸和大多数有机酸中均不发生作用。在可见光范围内，铬的反射能力约为65%，介于银（88%）和镍（55%）之间，且因铬不变色，使用时能长久保持其反射能力，保持铬层外观的光洁度。由于镀铬层具有优良的性能，S所以镀硅层在手表表带上的应用越来越广泛，其主要作用是保护表带表面不受损伤和划痕。同时，由于硅有着优异的耐腐蚀性和耐磨性，手表表带表面镀硅层的厚度也越来越受到重视。

镀硅的颜色常常受到制造工艺和成分的影响，一般来说，镀硅的颜色为灰色或银白色。这种颜色可以给人带来高贵、典雅、简洁的感觉，也很容易与其他颜色相搭配，营造出不同的风格和氛围。镀硅具有优异的防水、耐候、抗紫外线、抗老化、长期附着性、强度高等特点，是一种性能优良、应用广泛的材料，其颜色一般为灰色或银白色。在实际应用中，镀硅可以对表带进行进行染色或涂装，以满足特定的需求。

英飞思开发的EDX8000T Plus镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。镀层测厚仪EDX8000T Plus是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。

膜厚仪EDX8000T Plus具有以下等特点

>全新的下照式一体化设计

>测试快速，无需样品制备

>可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，污染或破坏被测物。软件配备距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，螺纹，曲面等）的异型件的精准测试

>备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品

>SDD检测器，具有高计数范围和出色的能量分辨率

>自动切换准直器和滤光片

除了在手表表带表面镀硅层和镀铬层的厚度的应用，EDX8000T Plus还具有以下等应用场景

>EDX8000T Plus镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量，金属电镀镀层分析；

>测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度

>镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品

>钢上锌等防腐涂层

>电路板和柔性PCB上的涂层

>插头和电触点的接触面

>贵金属镀层，如金基上的铑材料分析

>分析电子和半导体行业的功能涂层

>分析硬质材料涂层，例如 CrN、TiN 或 TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能，电镀液离子浓度分析

以下是膜厚仪EDX8000T Plus用于快速分析手表表带表面镀硅层和镀铬层的厚度的测试报告：