XRF荧光光谱仪测试条件设置指南

配置XRF荧光光谱仪滤光片和光管管压管流的指南

XRF光谱仪使用Rh X射线源和Pd狭缝。这意味着Rh和Pd线将始终存在于您的光谱，除非将其删除。 Rh和Pd L线会掩盖Cl和S等元素的存在。滤光片可用于从光谱中去除Rh和Pd L线。结合光管功率和不同滤光片还可以使仪器对某些元素更加敏感。推荐的电源/滤光片设置

下面讨论了不同的应用

一般分析

此设置允许1到40 keV的X射线到达样品。从Mg到Pu的所有元素都会被激发，产生荧光信号。来自源的Rh和Pd线将出现在光谱中。这样可以防止Cl和S线的观察。

设定值：

•请勿使用滤光片。

•将电压设置为40 kV

•对金属样品使用尽可能低的电流，对非金属样品使用尽可能高的电流

•使用真空

轻元素分析（Cu和以下，S和Cl除外）

此设置允许1到15 keV的X射线到达样品。 Mg，Al，Si和P对Cu的元素为最佳激发。将显示Rh和Pd线，因此您将无法观察到Cl或S线。因为Rh L线到达样品时，其吸收边低于2.3 keV的元素将被强烈激发，这包括Mg，Al和Si。

设定值：

•不要使用滤光片

•将电压设置为15 kV

•将电流设置为55 µA

•使用真空

轻元素分析（Fe和以下，Ti和Sc除外，但包括S和Cl）

此设置允许3到12 keV的X射线到达样品。 Ti滤光片吸收了许多Rh L线，并且发出Ti K线荧光。这会从光谱中去除Rh和Pd线，并会强烈激发元素它们的吸收边低于4.5 keV。但是，Ti谱线会出现在光谱中，因此不会适合测量Ti含量。

设定值：

•使用蓝色滤光片（钛金属）

•将电压设置为15 kV

•将电流设置为55 µA

•使用真空

金属分析（钛到银，钨到铋）

此设置允许12至40 keV的X射线到达样品。对钙以下的元素几乎没有敏感性。

设定值：

•使用滤光片（钛和铝）

•将电压设置为40 kV

•从10 µA的电流开始；如果计数率太高，请降低它

•请勿使用真空

重金属分析（较高的Z元素，例如Hg，Pb，Br，As）

此设置允许14至40 keV的X射线到达样品。此设置对As和Pb最敏感。那里对Ca以下的元素几乎不敏感。

设定值：

•使用滤光片（Ti，Al和Cu）

•将电压设置为40 kV

•将电流设置为15 µA

•请勿使用真空

陶瓷中较高Z元素（Fe到Mo）的分析

此设置允许17到40 keV的X射线到达样品。这将激发从铁到钼的元素。

设置针对Rb，Sr，Y，Zr和Nb进行了优化。对Fe以下的元素几乎没有敏感性。

设定值：

•使用滤光片（Cu，Ti，Al）

•将电压设置为40 kV

•将电流设置为15 µA

•请勿使用真空